武漢普賽斯電子亮相CIOE 2022，提供半導(dǎo)體、光通信檢測(cè)方案及設(shè)備，助力光通信檢測(cè)設(shè)備國(guó)產(chǎn)化

  ICC訊 2022年9月7日-9日，第24中國(guó)國(guó)際光電博覽會(huì)(CIOE 2022)將在深圳國(guó)際會(huì)展中心(寶安)舉辦。

  武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司屆時(shí)將帶去自主研發(fā)生產(chǎn)的VCSEL測(cè)試機(jī)、Chip自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、800G誤碼儀、器件及模塊三溫測(cè)試系統(tǒng)、脈沖源表、老化設(shè)備等產(chǎn)品及方案，誠(chéng)邀您蒞臨信息通信展7號(hào)館7A37普賽斯展位參觀、交流及業(yè)務(wù)洽談。

   VCSEL 測(cè)試機(jī)(PSS WT-201)

  普賽斯高功率VCSEL測(cè)試機(jī)用于面發(fā)射類型VCSEL的Wafer測(cè)試，支持芯片的LIV、光譜、近場(chǎng)、遠(yuǎn)場(chǎng)相關(guān)參數(shù)的測(cè)試，視覺自動(dòng)識(shí)別，全自動(dòng)完成每一顆芯片的測(cè)試;支持常溫、高溫雙溫測(cè)試，高溫測(cè)試溫度可由用戶自定。兼容多種不同尺寸的Wafer，向用戶開放測(cè)量數(shù)據(jù)庫(kù)，用于后續(xù)篩分工序。

  產(chǎn)品應(yīng)用

  典型的人臉識(shí)別、車載雷達(dá)等應(yīng)用的VCSEL 芯片測(cè)試

  高功率面發(fā)射芯片的驗(yàn)證測(cè)試

  產(chǎn)品特點(diǎn)

  集成自制超窄脈沖 SMU、最小脈沖到 1us，最大電流 30A

  積分球同步收光，支持短脈沖 LIV 測(cè)試和光譜測(cè)試

  支持晶圓位置識(shí)別和自動(dòng)調(diào)整

  測(cè)試載臺(tái)采用高導(dǎo)熱材料，TEC溫控，溫度范圍可支持15~100°C

  _支持四線制電壓測(cè)試，排除環(huán)境線損對(duì)芯片電壓測(cè)試結(jié)果的影響

  _支持快速光譜測(cè)試;支持NF均勻性與壞點(diǎn)檢測(cè);支持FF測(cè)試發(fā)散角測(cè)試

  _專利技術(shù)開發(fā)的低感高電流探針，支持窄脈沖大電流測(cè)試

  800G 誤碼儀(PSS BERT1A881)

  普賽斯800G高速誤碼測(cè)試系統(tǒng)(PSS BERT1A881)是一款針對(duì)于多通道PAM4和NRZ應(yīng)用的高速信號(hào)誤碼性能分析儀，可支持8x112Gb/s PAM4信號(hào)測(cè)試，設(shè)備包含8路PPG，8路ED收發(fā)端信號(hào)可同時(shí)或者獨(dú)立工作。

  發(fā)端包含多級(jí)預(yù)加重調(diào)節(jié)模式，可針對(duì)PAM4信號(hào)進(jìn)行眼型調(diào)節(jié)等功能，收端包含 CTLE均衡調(diào)節(jié)，也可支持FFE、DFE等均衡功能，支持FEC功能KP4/KR4 FEC協(xié)議，Symbol Errors分析，具備SNR監(jiān)測(cè)功能。

  產(chǎn)品應(yīng)用

  多通道高速模塊收發(fā)測(cè)試

  器件研發(fā)生產(chǎn)測(cè)試

  _ 有源光纜 (AOC), 高速線纜 (DAC)測(cè)試

  產(chǎn)品特點(diǎn)

  多通道選擇：最高支持8通道獨(dú)立或同時(shí)工作

  PAM4速率選擇：支持24.33~57.8GBaud，可定制

  多碼型選擇：PRBS7/9/11/13/15/16/23/31、PRBS7~31Q、SSPRQ、JP03A、JP03B、CID jitter tolerance pattern、Transmitter linearity test pattern、User pattern等

  測(cè)試載臺(tái)采用高導(dǎo)熱材料，TEC溫控，溫度范圍可支持15~100°C

  _發(fā)端支持預(yù)加重功能，收端支持均衡功能設(shè)置，支持CTLE、FFE、DFE等調(diào)節(jié)模式

  _信號(hào)上升下降時(shí)間短，低抖動(dòng)

  _KR4/KP4 FEC功能，Symbol Errors錯(cuò)誤分布解析

  BOSA 三溫測(cè)試系統(tǒng)(PSS BOSA3T10801)

  普賽斯BOSA三溫測(cè)試系統(tǒng)支持BOSA器件工業(yè)級(jí)低溫、常溫、高溫的性能測(cè)試，包括LIV、APD光電特性測(cè)試以及光譜測(cè)試。系統(tǒng)采樣TEC控溫，溫度范圍為-40℃～85℃，相比使用傳統(tǒng)的高低溫箱控溫，具有控溫效率高，溫度穩(wěn)定性、均勻性好，測(cè)試效率高，操作簡(jiǎn)便的特點(diǎn)。

  產(chǎn)品應(yīng)用

  BOSA器件的多路三溫綜合測(cè)試

  產(chǎn)品特點(diǎn)

  支持低溫-40℃、常溫、高溫85℃條件下，BOSA的LIV掃描和光譜測(cè)試、Vbr、Id、Res、RL、Icc等綜合性能測(cè)試

  支持一鍵測(cè)試，以及三溫?cái)?shù)據(jù)對(duì)比

  單工位4路測(cè)試，雙工位共享OSA，節(jié)約設(shè)備資源和成本

  小型TEC溫控測(cè)試夾具，溫控速度快，溫度穩(wěn)定性和均勻性好

  大功率脈沖源(PSS PLT1401)

  PSS PLT1401脈沖源適用于激光雷達(dá)TO、VCSEL陣列等大功率激光器的測(cè)試，支持脈沖PIV特性曲線和特性參數(shù)的測(cè)試，以及光譜特性測(cè)試(需要外接光譜儀)。儀表集脈沖電壓源、電流表、電壓表和光功率計(jì)等功能于一體，具有體積小、測(cè)試速度快、使用簡(jiǎn)單的特點(diǎn)。

  產(chǎn)品應(yīng)用

  大功率激光雷達(dá)TO測(cè)試

  VCSEL激光器陣列的測(cè)試

  產(chǎn)品特點(diǎn)

  支持ns級(jí)脈沖輸出與測(cè)試

  支持脈沖PIV掃描測(cè)試

  支持脈沖波形檢測(cè)

  最大輸出電壓 40V，驅(qū)動(dòng)電流可達(dá)到30A

  _最小脈寬200ns，占空比≤ 0.1%

  _提供外置積分球接口用于大功率檢測(cè)

  _PD 響應(yīng)波長(zhǎng)范圍 400~1700nm

  _支持本地和遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)庫(kù)，支持工業(yè)生產(chǎn)MES系統(tǒng)

  更多產(chǎn)品及服務(wù)

  誠(chéng)邀各位新老客戶蒞臨展位參觀交流

7號(hào)館 7A37