EXFO發(fā)布|適用于制造和研發(fā)應用的光測試解決方案（中）

  ICC訊 先前，EXFO發(fā)布了「適用于制造和研發(fā)應用的光測試解決方案（上）」，來自EXFO的先進光譜分析儀OSA20、可調(diào)諧濾波器XTA-50和XTM-50展現(xiàn)了在產(chǎn)線和實驗室環(huán)境中的強大光測試能力。續(xù)上文，繼續(xù)為大家介紹EXFO的器件測試平臺CTP10、臺式可調(diào)諧激光器T200S和T500S的高性能規(guī)格、高效與經(jīng)濟。

  器件測試平臺

  CTP10是一種模塊化的測量平臺，可高效地測試全天候運行的高端口數(shù)無源器件。CTP10與一個或多個EXFO的掃頻可調(diào)諧激光器配合使用，提供非常高的掃頻插損(IL)、偏振相關損耗(PDL)和回損(RL)測量性能。

  1.在全速運行時仍保持高性能規(guī)格

  即使在使用激光器，以100 nm/s的速度運行時，CTP10仍然能夠保持在業(yè)內(nèi)屬于高水準的性能規(guī)格。您不再需要在掃描速度和測量精準度之間做出妥協(xié)，因為CTP10在單次掃描中的動態(tài)范圍可達70 dB，即使在掃描速度為100 nm/s的情況下其采樣分辨率也能達到1 pm。

  CTP10是鑒定高端口數(shù)先進WDM器件(如波長選擇開關(WSS)的理想工具。它還特別適用于在研發(fā)和制造環(huán)境中對光子集成電路(PIC)進行光測試。

  2.下一代平臺和模塊

  IL RL OPM2：插損和回損測量模塊，配有兩個光檢測器

  IL PDL：插損和偏振相關損耗測量模塊，覆蓋C+L電信波段

  IL PDL OPM2：插損和偏振相關損耗模塊，配備兩個光檢測器，在CTP10的整個工作波長范圍內(nèi)進行測量

  SCAN SYNC：對掃頻波長激光器進行光采樣

  OPMx：光檢測器模塊，配有2、4或6個檢測器

  FBC & FBC-M：全波段合成器模塊，分別用于對IL和RL或IL和PDL進行寬帶掃頻測量

  PCMx：光電流計模塊，可選配2個或6個輸入端口

  3.GUI功能強大、直觀

  內(nèi)嵌軟件提供功能強大、直觀的GUI，以圖形方式配置測試、執(zhí)行測量和分析。

  臺式可調(diào)諧激光器

  T200S和T500S是非常先進、經(jīng)濟高效的解決方案，適用于所有研發(fā)和制造環(huán)境。

  這兩種激光器可以和CTP10或CT440器件測試儀組成掃頻測試系統(tǒng)，用于IL、RL和PDL掃頻測量。此外，這兩種激光器還可以獨立使用，采用步進模式。

  可用型號

  T200S有2個型號:/O和/CL激光器，輸出功率為10 dBm，主要用于電信應用。

  T500S有5個型號:/O、/ES、/SCL、/CL和/CLU激光器，在特定波長范圍內(nèi)輸出光功率可從10 dBm調(diào)節(jié)到13 dBm的最大可用光功率。

  將T200S和T500S系列激光器與EXFO的器件測試平臺CTP10結合起來使用，由此形成的測試解決方案能夠以高分辨率和高精度提供諸如插損（IL）、偏振相關損耗（PDL）或回損（RL）之類的光譜測量。非常適合PIC行業(yè)既需測試效率，又需測試精確的要求！