OFC 2024|來EXFO展臺1017探索創(chuàng)新解決方案

  ICC訊 第49屆光網(wǎng)絡(luò)與通信研討會及博覽會(OFC) 正在美國加州圣地亞哥會展中心舉行。歡迎蒞臨EXFO #1017展位了解如下創(chuàng)新解決方案！

  光子集成電路（PIC）

  EXFO具有獨特的專利測試能力，在業(yè)績處于領(lǐng)先地位

  從測試條形、裸片、晶圓級或封裝元件，到通過對無源和有源光學(xué)元件進(jìn)行高精度光譜表征來有效地將光傳送到器件上，EXFO的解決方案將精度和自動化相結(jié)合，幫助企業(yè)應(yīng)對當(dāng)今的挑戰(zhàn)。

  本次OFC  EXFO會展示我們的兩種元件測試解決方案，歡迎蒞臨 1017展位一探究竟:

  · 光子集成電路 (PIC) 的自動測試將在獨特的新型多裸片測試探針臺 OPAL-MD 上進(jìn)行展示。該測試站可對多個芯片進(jìn)行順序自動測試，動態(tài)調(diào)整測試條件、參數(shù)和結(jié)果處理。

  · 我們的 CTP10 元件測試平臺簡化了光譜測試，減少了設(shè)置時間，并允許輕松重新配置測試，以包括 PDL、回波損耗甚至光電流。

  800G/1.6T測試方案

  EXFO為高速系統(tǒng)提供完整的從電到光的測試

  我們的模塊化 400G、800G 和 1.6TB 解決方案可提供機架式或便攜式配置，為客戶的測試程序帶來極致的速度和靈活性。

  解決方案包括

  · FTBx-88800 系列：實驗室 800G 測試解決方案（光學(xué)、DCO 和 LPO）

  -首款支持 800G ZR 收發(fā)器的緊湊型便攜式驗證工具

  -1x800G、2x400G、8x100G 客戶端和 400G/800G DCO

  -鏈路訓(xùn)練功能

  -800G 多端口，包括 OSFP 和 QSFP-DD 測試端口

  · BA-4000-L2 流量和比特分析儀：用于研發(fā)和制造的 800G/1.6T 測試儀（L2 流量、L1 誤碼率)

  -利用 L2 幀進(jìn)行 BERT，用于 IEEE 802.3dj FECi 和 FECo 誤碼率測試

  -實時流量 FEC 分析

  -信號質(zhì)量極佳的本地電子接口

  -強大的 RX EQ、CTLE、32 分路 FFE+DFE

  EXFO還在本次OFC與眾多行業(yè)創(chuàng)新者聯(lián)合展示綜合解決方案，歡迎關(guān)注！