EXFO創(chuàng)新技術(shù)為實(shí)驗(yàn)室、器件制造商和數(shù)據(jù)中心提供速度快、性能高的測試

ICC訊 EXFO將在2023年中國國際光電博覽會(huì)（CIOE 2023）上展示用于800G、自動(dòng)化光子器件以及遠(yuǎn)程測試與監(jiān)測的新功能。

 

通信業(yè)測試、監(jiān)測與分析專家 EXFO 今天宣布推出面向光實(shí)驗(yàn)室、制造和現(xiàn)場應(yīng)用的測試與測量新功能，用于下一代光模塊的高速測試。這些創(chuàng)新產(chǎn)品中有許多便于攜帶，也可以安裝在機(jī)架上，將于今天至9月8日在中國深圳舉行的中國國際光電博覽會(huì)（CIOE 2023）上展出。

 EXFO 全球?qū)嶒?yàn)室與制造業(yè)務(wù)副總裁 Michael Scheppke 表示：“我們很高興能夠推出創(chuàng)新的實(shí)驗(yàn)室、現(xiàn)場和數(shù)據(jù)中心測試產(chǎn)品，擴(kuò)展端到端網(wǎng)絡(luò)測試能力。在我們不斷進(jìn)步的過程中，產(chǎn)品的自動(dòng)化和適應(yīng)能力發(fā)揮了關(guān)鍵作用，幫助器件制造商和運(yùn)營商在迅速發(fā)展的行業(yè)中取得成功。”

 EXFO 在 CIOE 上展出的創(chuàng)新產(chǎn)品包括：

 BA-4080二層流量誤碼儀

這款先進(jìn)的測試儀在CIOE上首次亮相，它具有先進(jìn)的2層功能，支持最新一代的800G光模塊：DR4/FR4/LR4/LR1和1.6T光模塊。這些光模塊更加復(fù)雜，需要進(jìn)行物理層以外的測試，而這款測試儀具有先進(jìn)的2層功能，可以全面鑒定和驗(yàn)證此類光模塊的性能。BA-4080是EXFO光模塊測試生態(tài)系統(tǒng)的新成員，可幫助客戶充分利用下一代光模塊。

 FTBx-88800系列800G測試模塊

功能強(qiáng)大的EXFO 800G測試解決方案首次在中國市場亮相，是開發(fā)人員驗(yàn)證互操作性和最新800G標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性的完美選擇。該解決方案的獨(dú)特亮點(diǎn)在于它既有機(jī)架式配置，也有便攜式配置。FTBx-88800系列模塊可在整個(gè)高速環(huán)境中進(jìn)行多種測試，包括網(wǎng)絡(luò)鏈路測試，具有光模塊分路傳輸（breakout）測試功能，并支持采用不同封裝形式的光模塊（如QSFP）。它們還可以與EXFO的FTB-1 Pro平臺(tái)相結(jié)合，成為一款便攜、緊湊的800G測試解決方案。

 64G光纖通道測試解決方案

該解決方案可確保新的64G FC開關(guān)和光模塊在從服務(wù)開通驗(yàn)證到終端節(jié)點(diǎn)排障的每個(gè)階段都能可靠地運(yùn)行。它可以作為便攜式解決方案在現(xiàn)場使用，也可以按照在EXFO的機(jī)架式安裝平臺(tái)中使用。

 D系列OTDR

EXFO將繼續(xù)展示最新的OTDR，即D系列，該系列可提供高精準(zhǔn)度測量，用于鑒定和驗(yàn)證光纖鏈路。這些OTDR支持?jǐn)?shù)據(jù)中心、光纖網(wǎng)絡(luò)和移動(dòng)網(wǎng)絡(luò)中的關(guān)鍵光纖部署與運(yùn)營。

 PIC測試用全自動(dòng)光電流模塊

該模塊于2013年初問世，它強(qiáng)化了我們的高性能CTP10無源器件測試平臺(tái)，該平臺(tái)目前可結(jié)合OPAL端面耦合探針臺(tái)的功能，實(shí)現(xiàn)快速、自動(dòng)且精準(zhǔn)的PIC測試。

 T200S和T500S連續(xù)可調(diào)諧激光器

這些產(chǎn)品可實(shí)現(xiàn)先進(jìn)的器件測試，將于CIOE展會(huì)期間在EXFO的展位上展出。

 歡迎蒞臨 CIOE EXFO 展臺(tái) #10A51，更有主題專家演講，不容錯(cuò)過。

 

Francois Couny

EXFO Optics 產(chǎn)品線經(jīng)理和解決方案經(jīng)理

 自 2015 年起擔(dān)任 EXFO Optics 的產(chǎn)品線經(jīng)理和解決方案經(jīng)理。他擁有英國巴斯大學(xué)光子學(xué)博士學(xué)位，過去 20 年一直從事專業(yè)光纖和光學(xué)測試設(shè)備方面的工作，目前聚焦于光子集成電路表征領(lǐng)域。

 

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《從晶圓級(jí)到單晶粒的先進(jìn)集成光電子測試》

 2023/09/06 下午 15:10-15:30

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EPIC 光學(xué)元件、材料與創(chuàng)新應(yīng)用會(huì)議

《光電子集成（PIC）器件測試：從研發(fā)到生產(chǎn)》

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 深圳國際會(huì)展中心5號(hào)館館內(nèi)會(huì)議室