ICC訊 近日,日立高新技術(shù)公司主頁上登載了由ficonTEC公司主辦、日立高新技術(shù)集團(tuán)旗下的VLC Photonics S.L.公司參與的網(wǎng)絡(luò)研討會。
這場網(wǎng)絡(luò)研討會時常30分鐘左右,歡迎點擊觀看。
這場主題為 "PIC Testing with Wafer-level Test Systems" 的網(wǎng)絡(luò)研討會于去年舉行,其中介紹了VLC Photonics S.L.如何使用ficonTEC公司的測試設(shè)備提供PIC測試服務(wù)。
網(wǎng)絡(luò)研討會概要內(nèi)容如下:
由VLC Photonics S. L.公司首席執(zhí)行官I?igo Artundo介紹VLC的PIC晶圓級測試技術(shù),以及和ficonTEC之間進(jìn)行對話形式的答疑。
第一部分:PIC測量需求和課題
第二部分:VLC的PIC測量解決方案(Automated Wafer-level Testing)
第三部分:用于端面耦合PIC測試的Wafer-Level Test技術(shù)
第四部分:答疑
如果您有任何關(guān)于網(wǎng)絡(luò)研討會的內(nèi)容咨詢的話,請通過下面的 "E-mail" 或者電話聯(lián)系我們。
Email: optosales.aj.ml@hitachi-hightech.com
Tel: 0755-82029631
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新聞來源:日立高新技術(shù)集團(tuán)
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