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昊衡科技-OLI用于光器件微裂紋檢測

摘要:OLI是一款低成本高精度光學鏈路診斷系統(tǒng)。其原理基于光學相干檢測技術,利用白光的低相干性可實現(xiàn)光纖鏈路或光學器件的微損傷檢測。通過讀取最終干涉曲線的峰值大小,精確測量整個掃描范圍內的回波損耗, 進而判斷此測量范圍內鏈路的性能。

  ICC訊 OLI是一款低成本高精度光學鏈路診斷系統(tǒng)。其原理基于光學相干檢測技術,利用白光的低相干性可實現(xiàn)光纖鏈路或光學器件的微損傷檢測。通過讀取最終干涉曲線的峰值大小,精確測量整個掃描范圍內的回波損耗, 進而判斷此測量范圍內鏈路的性能。

圖1.OLI低成本光學鏈路診斷儀

  本次測試使用了探測深度為-90dB的OLI光纖微裂紋檢測儀。圖2為待光測器件,該器件為MPO接頭,器件內部有微裂紋如圖3所示,漏光位置為裂紋點。

圖2.待測光器件

圖3.光器件內部裂紋

圖4.OLI測試結果

  將該器件接入OLI光纖微裂紋檢測儀進行測試,測試結果如圖4所示。本次測試檢測出光器件MPO端面對接處的反射、光器件內部微裂紋和其余光鏈路。OLl光纖微裂紋檢測儀的高精度探測能力,可以實現(xiàn)對于微小裂紋的高精度檢測和定位,為光學器件的生產和檢測提供了有效保障。

內容來自:昊衡科技
本文地址:http://m.huaquanjd.cn//Site/CN/News/2023/05/23/20230523081220840169.htm 轉載請保留文章出處
關鍵字: 昊衡科技
文章標題:昊衡科技-OLI用于光器件微裂紋檢測
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