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是德科技5500SPM升級方案—start of a new generation

摘要:隨著是德科技新一代掃描探針顯微鏡控制器的研發(fā)推出,升級原有5500SPM系統(tǒng)將帶來全新更為先進高效的掃描控制方式及便捷的軟件控制界面。

  ICCSZ訊  隨著是德科技新一代掃描探針顯微鏡控制器的研發(fā)推出,升級原有5500SPM系統(tǒng)將帶來全新更為先進高效的掃描控制方式及便捷的軟件控制界面。

  系統(tǒng)升級后的優(yōu)勢如下:

  * 基于FPGA處理單元的高帶寬全數(shù)字化新型控制器(FPGA@200MHz)

  * 全新NanoNavigator 掃描控制軟件,直觀簡潔的流程式控制界面,對于各種成像模式系統(tǒng)都預先集成運行模板,用戶使用時調(diào)用相應模板即可,包括專家級操作模式

  * 全新的Quick Sense成像模式,對AFM成像力達到皮牛級精準控制,您可在成像的同時同步獲取表面粘滯力分布圖、接觸剛度分布圖、壓入深度分布圖、彈性模量分布圖及電流分布圖等力學電學信息,并且成像速度及分辨率未受到任何影響

  * AutoDrive功能自動設置掃描成像參數(shù)

  * 成像速度較常規(guī)有顯著提高

  * 一整套基于單次掃描的表面電學分析成像模式,包括EFM、KFM、PFM等

  * 完整的原位電化學控制功能

  力學性能表征 - QuickSense

  40um掃描,256 x256數(shù)據(jù)采集(成像時長約8分鐘);

  其中粘滯力圖中藍色區(qū)域代表高粘滯力,紅色表示中等粘滯力,白色表示低粘滯力;

  剛度圖中藍色區(qū)域代表高模量,紅色代表低模量。

  電學性能表征 - KFM

SRAM樣品原位單次掃描表面電勢成像,

AFM 形貌(A),相位 (B) ,表面電勢(C), dC/dZ (D)

  掃描范圍: 15 µm x 15 µm。

內(nèi)容來自:是德科技
本文地址:http://m.huaquanjd.cn//Site/CN/News/2016/12/02/20161202080501652200.htm 轉(zhuǎn)載請保留文章出處
關鍵字: 是德科技
文章標題:是德科技5500SPM升級方案—start of a new generation
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