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武漢普賽斯電子邀您共聚2021深圳光博會

摘要:武漢普賽斯電子是“武漢·中國光谷”一家高科技企業(yè),專業(yè)研究和開發(fā)光通信器件產(chǎn)線監(jiān)測和測試方案,以及自動化生產(chǎn)設(shè)備。普賽斯參展CIOE2021,展位號:4號館 4A78,歡迎蒞臨參觀。

  公司簡介

  武漢普賽斯電子是“武漢·中國光谷”一家高科技企業(yè),專業(yè)研究和開發(fā)光通信器件產(chǎn)線監(jiān)測和測試方案,以及自動化生產(chǎn)設(shè)備。

  產(chǎn)品覆蓋BAR條器件、TO器件、OSA器件、光收發(fā)模塊、BOB等生產(chǎn)線,旨在為光電器件生產(chǎn)客戶提供完美的服務(wù)。

  聯(lián)系方式:

  TEL.:027-89908766

  E-mail:pss@whprecise.com

  Add.:中國 湖北省 武漢市東湖開發(fā)區(qū)光谷大道308號光谷動力綠色環(huán)保產(chǎn)業(yè)園9棟4樓

  產(chǎn)品看點(diǎn)

  •   芯片測試類


  BAR條自動測試系統(tǒng)

  Chip自動測試系統(tǒng)

  模塊測試類

  400G高速誤碼儀

  光模塊集成式老化系統(tǒng)

  •   器件測試類

  TO三溫測試系統(tǒng)

  TO焦距測試系統(tǒng)

  探測器組件測試分揀一體機(jī)

  高溫盤測系統(tǒng)

  高精度國產(chǎn)數(shù)字源表

  臺式S型

  插卡式C型

  脈沖P型

  大電流HCP型及PL型


  •     CHIP自動測試系統(tǒng)

  普賽斯chip自動測試系統(tǒng)應(yīng)用于光芯片 LD-CHIP 高溫/常溫 LIV 測試、SMSR 測試及背光抽測并 對不同測試結(jié)果進(jìn)行歸類分檔篩選。芯片 wafer 藍(lán)膜上料,CHIP-ID 自動識別記 憶匹配測試,通過藍(lán)膜頂針剝離機(jī)構(gòu),吸嘴吸取,機(jī)械手分別搬運(yùn)到高溫及常溫 測試區(qū)域,自動擺位,自動給電,收集發(fā)光參數(shù),分析篩選,機(jī)械手搬運(yùn)分檔歸類。


  •     TO三溫測試系統(tǒng)

  普賽斯 TO 三溫測試系統(tǒng)支持 TO 工業(yè)級低溫、常溫、高溫測試,溫度控制范圍為-40℃~85℃適用于 VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自動測試,支持器件任意引腳封裝測試,支持 LIV 特性測試以及光譜測試。系統(tǒng)一次支持兩塊夾具進(jìn)行測試,每塊夾具可裝載128顆TO,提高測試產(chǎn)量,系統(tǒng)具有溫控快,溫度均勻性好,穩(wěn)定可靠,測試效率高的特點(diǎn)。


  •       BAR條自動測試系統(tǒng)

  普賽斯BAR條自動測試機(jī)用于 LD 巴條LIV曲線,光譜,背光自動測量。全自動上下料,支持多種規(guī)格料盒上料,支持多種規(guī)格料盒或藍(lán)膜下料。常溫、高溫雙溫測試,高溫測試溫度可由用戶自定。探針加電,測試NG chip采取打點(diǎn)標(biāo)記,向用戶開放測量數(shù)據(jù)庫,用于后續(xù)篩分工序。


  •   光模塊集成式老化系統(tǒng)

  該設(shè)備用于光模塊的老化篩選以及可靠性分析。該系統(tǒng)提供 2~5V 恒壓以及最高 120℃高溫老化條件,同時對模塊的工作電流、電壓以及工作環(huán)境溫度進(jìn)行實(shí)時監(jiān)控測試,并自動進(jìn)行失效判斷。實(shí)時儲存監(jiān)控數(shù)據(jù),支持對老化失效模塊進(jìn)行追述,通過 DDM 記錄模塊電壓、溫度、偏置電流、發(fā)射功率、接收功率。最多支持 2016 只模塊(SFP 封裝)的 單次老化。


  •   400G高速誤碼測試系統(tǒng)

  該產(chǎn)品是一款針對于多通道PAM4和NRZ應(yīng)用的高速信號誤碼性能分析儀,最高支持8x56Gb/s PAM4信號測試,亦可支持10G~28Gb/s NRZ信號測試,設(shè)備包含8路PPG,8路ED收發(fā)端信號可同時或者獨(dú)立工作,單路最高支持56Gb/s PAM4信號,支持多類型碼型測試方案。發(fā)端包含多級預(yù)加重調(diào)節(jié)模式,可針對PAM4信號進(jìn)行眼型調(diào)節(jié)等功能,收 端包含0~9dB CTLE均衡調(diào)節(jié),也可支持FFE、DFE等均衡功能,支持FEC功能,可實(shí)現(xiàn) PRBS錯誤校驗(yàn)與修正,KP4/KR4 FEC協(xié)議,具備 SNR監(jiān)測功能??蓮V泛于 100G 模塊、200G 模塊、400G 模塊、AOC、光器件及子系統(tǒng)研發(fā)生產(chǎn)等光測試場景,亦可為高速光收發(fā)模塊自動化生產(chǎn)測試提供最佳解決方案。

 第23屆中國國際光電博覽會(CIOE 2021)

  普賽斯展位信息

  展會時間:2021年9月16-18日(周四-周六)

  展會地點(diǎn):廣東. 深圳國際會展中心 (廣東省深圳市寶安區(qū)福海街道展城路1號)

  普賽斯展位號:4號館 4A78

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