EXFO | 適用于制造和研發(fā)應用的光測試解決方案（下）

  ICC訊  在產線和實驗室環(huán)境中，有哪些出類拔萃的光測試解決方案組合備受青睞？

  本文將為您介紹來自 EXFO 的 OPAL-EC 端面耦合的晶圓級測試臺。它能夠執(zhí)行精準、可重復、靈活、快速的光子集成電路(PIC)測試，提供可追溯的測試結果。適用于從研發(fā)到多點量產的各種應用環(huán)境，能夠在集成的光子平臺上進行光電子測試，也能廣泛應用于電信和數(shù)據(jù)通信光模塊、量子、激光雷達(LIDAR)、傳感器、人工智能(AI)。

  適用于集成光子器件的自動化測試臺  

  OPAL-EC 端面耦合晶圓級測試臺采用過精準、可重復、靈活且快速的硬件，提供先進的集成光子電路鑒定功能。PILOT軟件套件強化了OPAL-EC的硬件功能，將其變成一個自動化測試臺和高質量的測量平臺，將測試結果變成可付諸實施的數(shù)據(jù)。整套應用成為一個平臺，支持完整的測試和測量流程，幫助用戶變得更加以數(shù)據(jù)為導向。這一個完整的平臺與EXFO的先進光學測量功能相結合，并對任何第三方儀表開放，成為理想的PIC測試解決方案。

  業(yè)內首創(chuàng)——該測試臺采用先進的組件，因此能夠通過溝槽耦合在晶圓上實現(xiàn)全自動且可重復性高的多端口光學端面耦合對準。這種水平的精準度打破了通常需要再安裝垂直光柵耦合器，才能進行晶圓級裸片篩選的做法。這反過來又可以在生產鏈的更早階段測試整個電路，包括用于封裝的生產端口，從而省去了成本高的步驟，并提高了全球產量和電路性能。還支持在現(xiàn)場快速地重新配置好測試臺，進行垂直耦合校準。

  OPAL-EC是專用于PIC測試的OPAL系列測試臺的一部分。該系列還包括僅支持垂直耦合的測試臺OPAL-SC，以及單裸片測試臺OPAL-SD，這些測試臺均采用PILOT軟件。

  PILOT自動化軟件

  PILOT是一個軟件平臺，可編排PIC測試和測量的完整流程：準備；以高吞吐量執(zhí)行全自動的導航、校準和測量以及對結果進行分析和數(shù)據(jù)管理。

  1.功能強大、易于擴展

  從軟件架構到實施，PILOT在時間和數(shù)量上都具有可擴展性，并有助于實施最佳實踐。它通過自動化簡化了各種任務(準備、數(shù)據(jù)分析、報告)和測量(導航、校準、儀表控制)，從而提高了效率。該軟件由多個應用組成，每個應用都針對特定任務進行設計，概念和職責分離。

  2.數(shù)據(jù)庫優(yōu)勢

  該軟件以各種應用為基礎，與數(shù)據(jù)庫(云端或內部)相連，該數(shù)據(jù)庫保存了所有元素(結果和實驗條件、測試臺配置、測試定義、組件定義、驅動程序、python腳本)的數(shù)據(jù)。PILOT可實現(xiàn)多用戶、多地點協(xié)作，共享共同的數(shù)據(jù)工作空間。該數(shù)據(jù)庫為關系型的，具備可追溯性，并可以進行擴展以支持大容量，使系統(tǒng)具備本地兼容性，并通過內置工具或互操作性支持高級數(shù)據(jù)分析、人工智能和商業(yè)智能工具。

  OPAL測試臺包括OPAL-EC主系統(tǒng)和PILOT軟件。OPAL平臺提供了一個靈活的測試環(huán)境來構建自定義配置，可以根據(jù)您的需求隨時進行修改，并降低了測試設計(DfT)要求。

  注：可以前往EXFO官方微信公眾號，點擊相關推文觀看演示視頻，下載規(guī)格書，了解如何使用自動化探針臺測試光子集成電路（PIC）