昊衡科技推出光通信領域整體測試方案

  ICC訊 昊衡科技專注于高端光學測量與傳感測試系統(tǒng)研發(fā)和應用解決方案開發(fā)，擁有OFDR核心技術。產(chǎn)品主要用于無源光器件、硅光芯片、光模塊、平面光波導等光學鏈路損耗、色散、偏振、延時等參數(shù)測量。設備包括OCI-V光矢量分析系統(tǒng)，OCI1500/1300高分辨光學鏈路診斷儀，OCI-T光學器件測量儀以及OCI-L光纖長度測量儀。昊衡科技致力于為光通信用戶提供更先進、更穩(wěn)定、更可靠和更經(jīng)濟的測試解決方案。

OCI-V 光矢量分析系統(tǒng)

  OCI-V光矢量分析系統(tǒng)通過可調(diào)光源對待測器件進行掃描，單次測量，即可獲取光器件在寬譜、精細波長下的插損(IL)、群延時(GD)、色散(CD)、偏振相關損耗(PDL)、偏振模色散(PMD)等多項光學參數(shù)。系統(tǒng)采用獨特光路設計以及先進算法，實現(xiàn)自校準，測量穩(wěn)定性、重復性好，操作簡單，極大節(jié)省測試時間。OCI-V是一款可靠的光學多參量測量工具，在光器件設計、研發(fā)、生產(chǎn)全過程中發(fā)揮重要作用，并為改善設計、優(yōu)化結(jié)構(gòu)和評估工藝等提供可靠依據(jù)。OCI-V目前處于新產(chǎn)品市場推廣與導入階段，歡迎行業(yè)客戶聯(lián)系溝通。昊衡科技將提供免費試用與專業(yè)的技術支持。

  OCI系列光學鏈路診斷儀

  OCI1500/1300原理基于光頻域反射(OFDR)技術，單端連接。單次測量可實現(xiàn)從器件到鏈路全范圍分布式測量。能夠輕松查找并判別光纖鏈路中宏彎、連接點，精確測量光纖長度、回損、插損、光譜和群延時等光學參數(shù)。其微米級空間分辨率、無盲區(qū)、高精度測量特點對于光學鏈路診斷和器件級別的精細測量具有不可替代優(yōu)勢。

  對于單一測量需求，比如10m以內(nèi)短鏈路診斷或僅僅關注光纖長度或損耗的用戶，他們還推出兩款簡版設備。OCI-T測量長度10m，空間分辨率達20μm，能夠以反射和透射兩種模式對無源器件及硅光子器件插回損進行定量評估。OCI-L主要用于測量光纖長度，比如邁克爾遜干涉儀的延時或臂差值測量，精度可達0.1mm。

  昊衡科技不僅提供標準產(chǎn)品，還支持全方位軟硬件定制、結(jié)果分析，解決測試難題。他們將秉持“技術感知世界”的使命，繼續(xù)專注于先進光學測量與傳感技術，砥礪前行，為廣大客戶提供更加精良的產(chǎn)品和更加完善的應用解決方案，為實現(xiàn)“中國智造”貢獻一份力量。