深度剖析國產(chǎn)自研光學(xué)測量測試系統(tǒng)

  ICC訊 昊衡科技致力于為光通信用戶提供更先進(jìn)、更穩(wěn)定、更可靠的測試解決方案，推出了一系列光學(xué)測量測試系統(tǒng)。其中高分辨光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)(OCI)與光學(xué)矢量分析系統(tǒng)(OCI-V)備受大家關(guān)注，為了便于大家選擇適合自己的產(chǎn)品，昊衡科技將進(jìn)行深度剖析，探究它們究竟有何不同之處。

  OCI高分辨光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)

單端反射式測量

 分布式回?fù)p、插損、光譜、群延時(shí)測量

OCI-V光矢量分析系統(tǒng)

雙端透射式測量

自校準(zhǔn)

  不同點(diǎn)有三個(gè)方面，分別是測量原理、測量參數(shù)以及產(chǎn)品應(yīng)用。

  測量原理

  高分辨光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)(OCI)采用的是OFDR光頻域反射技術(shù)，檢測待測光纖中背向瑞利散射信號，實(shí)現(xiàn)對光纖鏈路的全方位診斷;

  光學(xué)矢量分析系統(tǒng)(OCI-V)采用線性掃頻光源對帶測器件進(jìn)行掃描，并結(jié)合相干檢測技術(shù)獲取待測器件的瓊斯矩陣，進(jìn)而獲得各光學(xué)參數(shù)。

  測量參數(shù)

  高分辨光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)(OCI)測量分布式插損、回?fù)p、光譜、群延時(shí)等光學(xué)參數(shù);

  光學(xué)矢量分析系統(tǒng)(OCI-V)測量PDL(偏振相關(guān)損耗)、PMD(偏振模色散)、IL(插損)、GD(群延時(shí))、CD(色散)等光學(xué)參數(shù)。

  另外，在系統(tǒng)設(shè)備顯示上也有所差異，OCI顯示橫坐標(biāo)為長度，縱坐標(biāo)為反射;OCI-V顯示橫坐標(biāo)為波長，縱坐標(biāo)為各待測參數(shù)，其含義是測量不同波長下的各參數(shù)值。

  產(chǎn)品應(yīng)用

  高分辨光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)(OCI)主要應(yīng)用在光器件、光模塊測量，光纖長度精確測量，硅光芯片測量，光譜、群延時(shí)測量等。

  光學(xué)矢量分析系統(tǒng)(OCI-V)主要針對于無源器件(平面波導(dǎo)器件、硅光器件、波長可調(diào)器件、放大器等)測量。

  OCI測量光纖鏈路，測得各位置處的分布式損耗，空間分辨率高達(dá)10μm。

  OCI-V測量HCN氣體吸收室，測得不同波長下的插損，波長精度可達(dá)1.6pm。

  相同點(diǎn)是OCI與OCI-V均產(chǎn)自昊衡科技，屬于國產(chǎn)自研產(chǎn)品。設(shè)備自校準(zhǔn)，無需人為干預(yù)，穩(wěn)定性非常好，能精準(zhǔn)測量各待測參數(shù)且極大節(jié)省測試時(shí)間。

  現(xiàn)在，大家都更加了解高分辨光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)(OCI)與光學(xué)矢量分析系統(tǒng)(OCI-V)吧，如有任何問題，歡迎大家咨詢!

  昊衡科技

  一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技公司，專業(yè)從事工業(yè)級自校準(zhǔn)光學(xué)測量與傳感技術(shù)開發(fā)，也是國內(nèi)唯一一家實(shí)現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。

  目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品，主要應(yīng)用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數(shù)測量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測試。已與全球多個(gè)國家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系，并取得諸多成果。

  電話：027-87002165

  官網(wǎng)：http://www.mega-sense.com/

  公眾號：“昊衡科技”或“大話光纖傳感”