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產(chǎn)品升級 賦能制造|驛天諾全自動硅光芯片測試臺實現(xiàn)效能飛躍

摘要:驛天諾推出升級產(chǎn)品,硅光全自動藍膜 / 芯片吸附盒測試臺(CA-6000AL),專為硅光芯片測試設計的高精度自動化設備,為芯片檢測提供了精準識別、高速抓取與智能檢測功能一體的專業(yè)測試方案。

  ICC訊 在封測領域,芯片測試環(huán)節(jié)作為保障產(chǎn)品質(zhì)量與性能的關鍵步驟,正面臨著技術革新的迫切需求。隨著行業(yè)技術持續(xù)進步,傳統(tǒng)手工上下料方式已難以匹配不斷增長的產(chǎn)能要求。在此背景下,驛天諾推出升級產(chǎn)品 —— 硅光全自動藍膜 / 芯片吸附盒測試臺(CA-6000AL),為芯片檢測提供了精準識別、高速抓取與智能檢測功能一體的專業(yè)測試方案。


  硅光全自動藍膜/芯片吸附盒測試臺自動上下料全過程

  硅光全自動藍膜 / 芯片吸附盒測試臺(CA-6000AL)是一款專為硅光芯片測試設計的高精度自動化設備。該設備主要適用于晶圓切割后芯片的拾取、定位、測試及分選工作。其采用全自動化操作流程,可對藍膜或芯片吸附盒進行高速、高精度測試,將單芯片平均測試時間壓縮至秒級以內(nèi),較傳統(tǒng)方式效率大幅度提升,有望為封測領域帶來新的發(fā)展動力。

  核心特點

  納米級機械定位精度

  全自動芯片搬運系統(tǒng),實現(xiàn)快速抓取、定位、測試及分選

  上下料支持藍膜或者芯片吸附盒多種形態(tài)

  支持耦合單通道、四通道、八通道芯片測試,耦合精度高

  集成純光測試/純電測試/光電混合測試/RF測試

  溫度穩(wěn)定性高,穩(wěn)定性≤±0.2℃

  并行測試技術,顯著提升測試效率,降低單顆芯片測試成本

  快速算法優(yōu)化,減少無效等待時間

  具備自動校準、實時故障診斷及預測性維護功能

  實現(xiàn)芯片全流程自動化測試與智能化數(shù)據(jù)分析

  驛天諾推出的硅光全自動藍膜/芯片吸附盒測試臺,將為芯片檢測行業(yè)帶來更多可能性,推動行業(yè)邁向新高度。該設備集高精度、全自動化以及多功能于一體,對于客戶而言,這一測試臺應用將切實提升量產(chǎn)級別生產(chǎn)效率,保障產(chǎn)品質(zhì)量,大幅度提高UPH,進而助力客戶在市場競爭中占據(jù)有利地位。

  在“中國芯”崛起與全球半導體競爭白熱化的背景下,硅光全自動芯片測試臺不僅是提升效率工具,更是企業(yè)構建技術壁壘、搶占市場先機的戰(zhàn)略選擇。未來,它將成為半導體行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的助推器,助力中國智造走向全球舞臺!衷心感謝廣大客戶一直以來的支持與信任,驛天諾將持續(xù)以創(chuàng)新為驅(qū)動,致力于為客戶提供更為優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務,不斷為行業(yè)發(fā)展貢獻力量。

  驛天諾六月份將推出全新V2.0全自動光電芯片測試臺,敬請期待!

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