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光電九月,綻放科研之光 | 武漢普賽斯電子攜高速400G測試解決方案參展CIOE 2020

摘要:專業(yè)光電測試解決方案供應(yīng)商---武漢普賽斯電子將出席2020年9月9日-11日第22屆中國國際光電博覽會。屆時,武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司將攜全系列光芯片、光組件、光器件、光模塊測試設(shè)備與最新技術(shù)方案亮相本屆光博會。普賽斯電子致力于求精、創(chuàng)新的企業(yè)工匠精神,讓光電企業(yè)的制造與測試更高效。

 普賽斯展位號:4號館 通信系統(tǒng)設(shè)備館4A25

  參展時間:2020年9月9-11日

  參展地點:深圳會展中心(寶安新展館)

  專業(yè)光電測試解決方案供應(yīng)商---武漢普賽斯電子將出席2020年9月9日-11日第22屆中國國際光電博覽會。屆時,武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司將攜全系列光芯片、光組件、光器件、光模塊測試設(shè)備與最新技術(shù)方案亮相本屆光博會。普賽斯電子致力于求精、創(chuàng)新的企業(yè)工匠精神,讓光電企業(yè)的制造與測試更高效。

  良工鍛煉凡幾年,鑄得寶劍名龍泉。在今年的光博會上,武漢普賽斯電子將現(xiàn)場展出行業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的光通信測試解決方案,包括COC老化系統(tǒng)、BAR條自動測試機、探測器組件測試分揀一體機、CHIP TESTER、全新8路ED收發(fā)400G高速誤碼儀、SFP模塊老化、LD集成式老化系統(tǒng)等,武漢普賽斯全體員工誠邀廣大客戶朋友蒞臨展會現(xiàn)場進行交流指導(dǎo)。

  COC老化系統(tǒng)

  BAR條自動測試機

  CHIP TESTER

  400G 高速誤碼儀

  SFP模塊老化系統(tǒng)

內(nèi)容來自:普賽斯電子
本文地址:http://m.huaquanjd.cn//Site/CN/News/2020/08/18/20200818092102882310.htm 轉(zhuǎn)載請保留文章出處
關(guān)鍵字: 測試設(shè)備
文章標(biāo)題:光電九月,綻放科研之光 | 武漢普賽斯電子攜高速400G測試解決方案參展CIOE 2020
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