CIOE2020 | 普賽斯攜芯片系列解決方案及400G誤碼儀成功參展

  ICC訊 9月9-11日，武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司攜全系列光芯片、光組件、光器件、光模塊測試設(shè)備與最新技術(shù)方案亮相中國光博會(CIOE)，成立于2010年的普賽斯電子專業(yè)研究和開發(fā)光通信器件產(chǎn)線監(jiān)測和測試方案，以及自動化生產(chǎn)設(shè)備。產(chǎn)品覆蓋BAR條器件、TO器件、OSA器件、光收發(fā)模塊、BOB等生產(chǎn)線，旨在為光電器件生產(chǎn)客戶提供完美的服務(wù)。

  在10年的發(fā)展中，普賽斯電子已經(jīng)成為國內(nèi)光通訊測試儀器儀表商的領(lǐng)先代表。隨著光通訊產(chǎn)品的快速升級迭代，儀器儀表的新產(chǎn)品是每年觀展的亮點(diǎn)。在2020年的深圳光博會上，普賽斯電子現(xiàn)場展示了COC老化系統(tǒng)、BAR條自動測試機(jī)、探測器組件測試分揀一體機(jī)、CHIP TESTER、全新8路ED收發(fā)400G高速誤碼儀、SFP模塊老化、LD集成式老化系統(tǒng)等。

  光芯片全自動測試機(jī)

  光芯片全自動測試機(jī)應(yīng)用于光芯片LD-CHIP高溫/常溫LIV測試、SMSR測試及背光抽測并對不同測試結(jié)果進(jìn)行歸類分檔篩選。芯片 wafer 藍(lán)膜上料，CHIP-ID 自動識別記憶匹配測試，通過藍(lán)膜頂針剝離機(jī)構(gòu)，吸嘴吸取，機(jī)械手分別搬運(yùn)到高溫及常溫測試區(qū)域，自動擺位，自動給電，收集發(fā)光參數(shù)，分析篩選，機(jī)械手搬運(yùn)分檔歸類。此設(shè)備具有高速、高精度特點(diǎn)，實現(xiàn)了復(fù)雜時序、嚴(yán)密邏輯的工藝過程。設(shè)備采用了偏心凸輪驅(qū)動、連桿及精密夾具等機(jī)構(gòu)，配合多軸運(yùn)動、視覺定位、視覺字符匹配等技術(shù)，具有批量生產(chǎn)能力。

  功能特點(diǎn)

  芯片藍(lán)膜上料，通過視覺系統(tǒng)自動識別芯片ID，并可根據(jù)藍(lán)膜上物料得擺放形式設(shè)定拾取搜索路線。頂針剝離機(jī)構(gòu)剝離芯片，機(jī)械手自動拾取;

  通過校準(zhǔn)臺對拾取歸放完畢的芯片進(jìn)行二次定位;

  探針自動下壓加電，探針下壓力度可調(diào);

  高溫，常溫測試臺，溫度采用閉環(huán)控制;

  光纖準(zhǔn)直器及PD自動切換收光，測試常溫及高溫P4-V，常溫背光光功率，常溫和高溫光譜特性;

  機(jī)械手對測試NG物料自動拋料;

  測試OK物料根據(jù)測試結(jié)果自動分檔歸類;

  設(shè)備所有運(yùn)動軸均可獨(dú)立復(fù)位;

  可用標(biāo)準(zhǔn)TO及芯片進(jìn)行校準(zhǔn)，并對其他工藝參數(shù)進(jìn)行設(shè)置;

  軟件中加電條件、測試溫度等測試參數(shù)可設(shè)定;

  針對生產(chǎn)過程中的重要環(huán)節(jié)均有實時動態(tài)提示;

  生產(chǎn)過程中的異常情況均有報警提示及糾錯提示功能

  測試分選區(qū)支持4-6WaferRing，每個WaferRing可通過軟件設(shè)置進(jìn)一步細(xì)分檔位。

  探測器組件測試分揀一體機(jī)

  產(chǎn)品簡介

  適用探測器組件(無需做老化測試的PIN-TIA或者APD器件)的測試及下料分揀，可與封帽機(jī)無縫對接，采用其下料盒上料，實現(xiàn)插管腳、測試、分檔、下料至吸塑盒全過程，最終產(chǎn)出成品。

  功能特點(diǎn)

  光源帶1MHZ調(diào)制信號;

  可以測試在調(diào)試光信號條件下的Vpp值;

  響應(yīng)度測試;

  光源穩(wěn)定性高;

  支持1310nm，1490nm，850nm光源輸出;

  全自動插料、下料;·支持多種料盒提籃式上料;

  最多支持6個下料檔位;

  管腳方向圖像識別;

  下料盒孔位圖像識別;

  器件插入SOCKET失敗報警功能，不損傷器件管腳;

  器件放料失敗報警功能;

  根據(jù)不同客戶需求，定制化的數(shù)據(jù)存儲功能。

      BAR自動測試機(jī)

  產(chǎn)品簡介

  普賽斯BAR自動測試機(jī)用于LD巴條LV曲線，光譜，光自動測量。全自動上下料，支持多種規(guī)格料盒上料，支持多種規(guī)格料盒或藍(lán)跌下料。常溫、高溫雙濕測試，高溫測試溫度可由用戶自定。單或雙探針加電，測試NGchip采取打點(diǎn)標(biāo)記，向用戶開放測量數(shù)據(jù)庫，用于后續(xù)篩分工序。

  功能特點(diǎn)

  支持多種主演規(guī)格料盒，全自動上下料，避免轉(zhuǎn)料或人工操作對巴條chip造成的報廢;

  單臺集成常溫測量臺和高溫溟量臺，前光LV曲線、功率、光諾測量，背光功率測量，多參費(fèi)多條件篩分，盡可能篩選出不良chip，避免流入后道工序;

  多維度可調(diào)測量結(jié)構(gòu)，滿足用戶對不同夏核巴條測量需求;

  全自動測控程序，支持chip編碼識別，NG Chip保用打點(diǎn)標(biāo)記。

  400G高速誤碼儀(PSS BERT19881)

  產(chǎn)品簡介

  普賽斯400G高速誤碼測試系統(tǒng)(PSS BERT19881)是一款針對于多通道PAM4和NRZ應(yīng)用的高速信號誤碼性能分析儀，最高支持8x56Gb/sPAM4信號測試，亦可支持10G-28Gb/sNRZ信號測試，設(shè)備包含8路PPG，8路ED收發(fā)端信號可同時或者獨(dú)立工作，單路最高支持56Gb/sPAM4信號，支持多類型碼型測試方案。

  發(fā)端包含多級預(yù)加重調(diào)節(jié)模式，可針對PAM4信號進(jìn)行眼型調(diào)節(jié)等功能，收端包含0~-9dB CTLE均衡調(diào)節(jié)，也可支持FFE、DF等均衡功能，支持FEC功能，可實現(xiàn)PRBS錯誤校驗與修正，KP4/KR4FEC協(xié)議，具備SNR監(jiān)測功能?？蓮V泛于100G模塊、200G模塊、400G模塊、AOC、光器件及子系統(tǒng)研發(fā)生產(chǎn)等光測試場景，亦可為高速光收發(fā)模塊自動化生產(chǎn)測試提供最佳解決方案。

  期待普賽斯電子保持創(chuàng)新，為光通信帶來高性能高性價比的產(chǎn)品，用強(qiáng)實力助力5G及數(shù)據(jù)中心產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展。