ICC訊 從40G時代發(fā)展到400G網絡時代,DAC無源銅纜一直在數(shù)據中心通信鏈路起著舉足輕重的作用,其低功耗低成本的優(yōu)勢也延用到現(xiàn)在的800G,但隨著速率和帶寬的不斷攀升也導致DAC的傳輸距離的顯著減短。而AOC作為數(shù)據中心的長距傳輸媒質,由于其高功耗和高成本無法成為中端距傳輸?shù)膬?yōu)秀替代者。在這個需求的驅動的下,我們通信線纜生產商在數(shù)據中心、芯片廠商的配合及推動下推出了適合中短距傳輸?shù)?A href="http://m.huaquanjd.cn/site/CN/Search.aspx?page=1&keywords=%e6%9c%89%e6%ba%90%e9%93%9c%e7%bc%86&column_id=ALL&station=%E5%85%A8%E9%83%A8" target="_blank">有源銅纜,他們DAC的短距傳輸做了延申,也完成了AOC可做的中短距傳輸同時保持低功耗和低成本。
現(xiàn)在市場上兩種有源銅纜ACC和AEC,ACC-Active Copper Cable是使用Redriver芯片架構在Rx端通過CTLE均衡調整增益的一種有源銅纜,通俗的說更像一根通過放大模擬信號的有源線纜。而AEC-Active Electrical Cable是更加新穎使用retimer芯片結構的有源銅纜,這種有源銅纜不單單放大和均衡Tx和Rx端,它還會在Rx端重新做信號整形。
Redriver設計和眼圖
Retimer設計及眼圖
源于:https://www.intel.com/content/www/us/en/io/serial-bus-white-paper.html
MultiLane作為一個用于創(chuàng)新聚焦于前沿科技的公司,緊跟時代步伐加入了HiWire聯(lián)盟,迅速了解客戶ACC和AEC在數(shù)據中心中應用及難點,打造了業(yè)屆不可多得分別針對ACC或AEC的測試解決方案。
AEC測試系統(tǒng):MultiLane基于HiWire的AEC測試參數(shù)規(guī)范,用MultiLane特定儀器打造出AEC的測試系統(tǒng)。它囊括了CMIS驗證、Linkup能力實時Pre-和Post-FEC測量,并可自動產生測試報告,特別適合來料檢測、RMA、供應商驗證及生產測試。同樣的配置也可以用于ACC和AOC的測試。
用兩臺ML4054B進行400G AEC測試
ACC參數(shù)測試方案:ACC測試規(guī)范標準還沒建立,MultiLane已經基于如今在用的通用測試參數(shù)如頻率、時域測量包括眼圖優(yōu)化、插損和誤碼率打造了一個全新的測試方案。根據客戶的特殊應用環(huán)境,使用MultiLane特定的誤碼儀和示波器可以測量之前所有參數(shù)的組合。這些信號綜合參數(shù)可以對有源銅纜性能進行微調來平衡IC設置和線纜參數(shù),以達到數(shù)據中心的實際應用需求。
ACC綜合參數(shù)測量及微調
如需了解更多關于ACC、AEC測試方案詳情,可聯(lián)系深圳市唐領科技有限公司,sales@te-lead.com 0755-23824533 www.te-lead.com 或直接登陸MultiLane官網了解更多詳情https://www.multilaneinc.com/