OLI白光干涉儀原理介紹

  ICC訊 白光干涉儀又名光纖微裂紋檢測儀，能精確定位整個掃描范圍內的回波損耗，實現(xiàn)微米級光纖鏈路或光學器件的微損傷檢測。

圖1. OLI白光干涉儀

  OLI原理如圖2所示，光源發(fā)出寬帶連續(xù)光被耦合器分為兩路，其中一束作為參考光，另一束作為探測信號光發(fā)射到待測光纖中。

圖2. 白光干涉儀原理

      探測光在光纖中向前傳播時會不斷產生回波信號，這些回波信號光與參考光經過反射鏡后反射在耦合器發(fā)生拍頻干涉，并被光電探測器檢測。電機控制反射鏡Z移動進而改變參考光光程。

  依照光干涉理論，要發(fā)生干涉現(xiàn)象，其光程差需在相干長度范圍內，而寬譜光的相干長度非常短，當反射鏡移動時，從DUT返回的回波信號與反射鏡相等距離的反射信號發(fā)生拍頻。

圖3. OLI距離-反射率曲線

  通過對最終的拍頻信號處理，DUT鏈路上的每點反射回來信號的強度可以映射為該點的反射率(即曲線縱坐標)，DUT的實際干涉位置對應反射鏡Z移動的相應距離(即曲線橫坐標)，從而形成了OLI距離-反射率曲線。

  應用

  1、光纖微裂紋檢測

  2、硅光芯片、PLC波導瑕疵損耗檢測

  3、FA光纖陣列鏈路性能檢測

  4、光器件、光模塊內部耦合點、連接點性能檢測

  測量原理

  1、光源：白光

  2、兩路光：參考光、信號光

  3、兩路光在光程相同的地方發(fā)生干涉

  昊衡科技

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