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光纖微裂紋檢測儀使G-lens長度測量更精確

摘要:昊衡科技推出的光纖微裂紋檢測儀,可用于光器件、光模塊、硅光芯片等器件的高精度長度測量,分辨率可達(dá)1微米,是國產(chǎn)裂紋檢測儀中的佼佼者。

  ICC訊 昊衡科技推出的光纖微裂紋檢測儀,可用于光器件、光模塊、硅光芯片等器件的高精度長度測量,分辨率可達(dá)1微米,是國產(chǎn)裂紋檢測儀中的佼佼者。

圖1. 光纖微裂紋檢測儀

  G-lens是自聚焦透鏡,一種折射率分布沿徑向漸變的柱狀光學(xué)透鏡。自聚焦透鏡的分布沿徑向逐漸減小,能夠使沿軸向傳輸?shù)墓猱a(chǎn)生連續(xù)折射,從而實(shí)現(xiàn)出射光線平滑且連續(xù)的匯聚到一點(diǎn),下面是用OLI對G-lens長度的測量。

圖2. 單波長漸變折射率透鏡(G-lens)與插芯耦合示意圖

  端面為斜8°的單波長漸變折射率透鏡(G-lens)與帶光纖的插芯耦合在一起,測量G-lens長度。

圖3. 實(shí)際示意圖

      測試結(jié)果如圖4所示,第一個(gè)峰值為插芯與G-lens耦合面反射峰,第二個(gè)峰值為G-lens尾端反射峰,測試結(jié)果中dx=2.9mm為G-lens光程長度,是在折射率為n1=1.467(設(shè)備默認(rèn)折射率)下測得,而G-lens的實(shí)際折射率為n2=1.6,則G-lens的實(shí)際長度為L=dx*n1/n2=2.66mm。

圖4. OLI測量結(jié)果

  OLI光纖微裂紋檢測儀可以精確定位整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗,實(shí)現(xiàn)微米級光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測。

  昊衡科技

  Megasense

  一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技公司,專業(yè)從事工業(yè)級自校準(zhǔn)光學(xué)測量與傳感技術(shù)開發(fā),也是國內(nèi)唯一一家實(shí)現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。目前,昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品,主要應(yīng)用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數(shù)測量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測試。已與全球多個(gè)國家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系,并取得諸多成果。電話:027-87002165官網(wǎng):http://www.mega-sense.com/

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